Mit dem Makroobjektiv HIKMICRO können Sie potenzielle Konstruktionsfehler erkennen, Hotspots auf Leiterplatten auswerten und kleine elektronische Komponenten prüfen. Lesen Sie mehr.
Mit dem Makroobjektiv HIKMICRO können Sie potenzielle Konstruktionsfehler erkennen, Hotspots auf Leiterplatten auswerten und kleine elektronische Komponenten prüfen. Lässt sich einfach an Wärmebildkameras der HIKMICRO B-Serie anbringen.
Hauptmerkmale:
- Hohe Genauigkeit: Max. (±3 ℃/5,4 ℉, ±3 %), für Objekttemperaturen zwischen 0°C und 150°C
- Kleinere Ansicht: Kleine Details sind deutlich sichtbar, das Ziel wird mit einer Größe von nur 100 µm x 100 µm abgebildet
- Einfache Installation: Das Makroobjektiv lässt sich leicht an kompatible Kameras anbringen
- Keine Kalibrierung erforderlich: Nach der Installation sofort einsatzbereit, Sie müssen die Kamera nicht mehr zum Kalibrieren des Objektivs an den Hersteller schicken
Typische Anwendung:
Forschung und Entwicklung
Verifizierung und Validierung elektronischer Designs
Inspektion von Leiterplatten (PCB)
Testen elektronischer Komponenten
Reparatur von Mobiltelefonen
Betriebsumgebung:
Das Makroobjektiv von HIKMICRO ermöglicht Ihnen, ein sehr kleines Objekt aus extrem kurzer Entfernung (30 mm) zu fokussieren, sodass es in der Ansicht (und im endgültigen Bild) im Vergleich zum Standardobjektiv viel größer erscheint. Sie können damit genaue Temperaturmessungen von kleinen Zielen bis zu 500 µm x 500 µm durchführen, ohne die Objektive wechseln zu müssen. Erhalten Sie ein unglaublich detailliertes Bild von sehr kleinen Objekten, sodass Sie Einblick in die Wärmeentwicklung und -ableitung auf Leiterplatten erhalten, fehlerhafte oder zu kleine Komponenten identifizieren oder möglicherweise sogar präzise Fehlerstellen an elektrischen Geräten lokalisieren können.